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型号:

  1、用于测量油脂、油漆、食品、药物、粘合剂等流体的粘性阻力与绝对粘度。2、4种转速满足不同的测量范围。3、模拟指针显示、安装简便、操作简单。

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旋转式粘度计

型号:TG128

  TG128双盘机械天平可供工矿企业、科研机构、高等院校实验室、化验室作精密衡量分析之用。

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双盘机械天平 TG128

型号:JA系列

  1、型电磁力传感器2、防震,称量速度可调3、动零位跟踪可调4、量程范围去皮5、态温度补偿6、下称吊钩7、荧光显示8、报警功能9、载保护10、RS232接口11、司、克拉等单位转换12、五面玻璃防风罩,体积大视野清晰

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JA系列电子精密天平

型号:|FA系列

  1、大型电磁力传感器2、四级防震,称量速度可调3、显示方式可调4、自动零位跟踪可调5、自动校准6、全量程范围去皮7、动态温度补偿8、自动故障诊断9、内置下称吊钩10、柔和背光液晶显示11、过载保护12、内置RS232接口13、克、盎司、克拉等单位转换14、计件、百分比称量

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|FA系列电子分析天平

型号:2W

  测定透明、半透明液体或者固体的折射率和浓度,通过精密光电测量的办法,并结合微处理技术,可直接将测量数据显示在液晶显示器上。它是石油工业、油脂、食品工业、日用化学、制糖工业和地质勘查等有关企业、科研、教学部门不可缺少的常用仪器之一。

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2W双目阿贝折射仪

型号:2WAJ

  阿贝折射仪2WAJ能测定透明、半透明液体或固体的折射率ND和平均色散NF-NC的仪器。仪器上接有恒温器,则可测定温度为0℃~70℃内的折射率ND,并能测出糖溶液内含糖量浓度的百分数从0-95%(相当于折射率为1.333-1.531)。

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阿贝折射仪 2WAJ

型号:9W

  9W测微光度计.主要用途是对各种摄谱仪所摄下之谱片进行黑度测量,以确定被测元素的含量完成光谱的定量分析工作。还可于照相膜层之密度检查和感光能力检查。以及配合其它光学仪器作象差测量等。

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测微光度计 9W

型号:8W

  8W光谱投影仪为摄谱仪成套设备之一,主要用于对摄谱仪所摄下之光谱底板通过投影放大,与标准谱板或已知浓度的光谱进行定性或半定量分析。也可作为一般投影放大用.

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光谱投影仪 8W

型号:WZZ-2S

  数字自动旋光仪WZZ-2S是测定物质旋光度的仪器。通过对样品旋光度的测定,可以确定样品的浓度、纯度、糖度或含量。广泛用于制糖、制药、药检、食品、香料、味精以及化工、石油等工业生产、科研、教学部门,作化验分析或过程质量控制。

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数字自动旋光仪 WZZ-2S

型号:WZZ-1S

  数字自动旋光仪WZZ-1S是测定物质旋光度的仪器。通过对样品旋光度的测定,可以确定样品的浓度、纯度、糖度或含量。广泛用于制糖、制药、药检、食品、香料、味精以及化工、石油等工业生产、科研、教学部门,作化验分析或过程质量控制

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数显旋光仪 WZZ-1S

型号:WXG-4

  WXG-4圆盘旋光仪是测定物质旋光度的仪器。通过对样品旋光度的测定,可以确定样品的浓度、纯度、糖度或含量。WXG-4圆盘旋光仪用于制糖、制药、药检、食品、香料、味精以及化工、石油等工业生产、科研、教学部门,作化验分析或过程质量控制。

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旋光仪 WXG-4

型号:CPJ-3015

  CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像,测量简易直观,效率高。仪器光学质量优良,物镜成清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%。

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反像测量投影仪 CPJ-3015

型号:CPJ-3010

  CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像,测量简易直观,效率高。本仪器能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。

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反像测量投影仪 CPJ-3010

型号:CPJ-3007

  CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像,测量简易直观,效率高。本仪器能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。

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反像测量投影仪 CPJ-3007

型号:CMS-554C

  全自动三坐标测量机又称三次元采用移动桥式结构,显著的提高了运动性能.全花岗石工作台.道轨.横梁和Z轴,具有相同的温度特性和刚性,并通过有限元分析,动态特性分析.从而使整机具有了高的稳定性和可靠性。

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三坐标测量机、全自动 CMS-554C

型号:CMS-554M

  CMS-554M三座标测量机能实现空间坐标点位的测量。方便的测量出各种零件的三维轮廓尺寸,形状及位置精度。它是集光,机,电,算于一体的精密测量仪器。它广泛的应用于机械制造,电子,汽车和航空航天等工业中。

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三坐标测量机 CMS-554M

型号:PG150-PC

  1、PG15-J型激光平面干涉仪工作基于双光束等厚干涉原理。2、根据近代光学的研究结果,光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。

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激光平面干涉仪 PG150-PC

型号:6JA

  干涉显微镜6JA是用来测量精密加工零件(平面、圆柱等外表面)光洁度的仪器,也可以用来测量零件表面刻线,镀层等深度。

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干涉显微镜 6JA

型号:9j

  显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。其能判国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。(表面粗糙度12.5-0.2)对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

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光切法显微镜 9j(新款)

型号:JSN-1A

  机械比较仪适用于测量工件的几何尺寸和形位偏差,特别是检定工件的跳动量,并可用比较法测量长度。比较仪仪校验台是机械比较仪用的校验台架,与量块配合使用可测定比较仪的示值变动性等性能指标。

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机械式比较仪 JSN-1A

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